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针对变压器绕组介质损失因数（tan δ）测试中存在的计算繁琐、测试操作次数及登高次数多带来的不安全因素增多等问题，利用变压器绕组tan δ测试中抗干扰电桥的特性，在实际测试数据分析基础上，介绍了高压屏蔽和低压屏蔽2种接线方式，通过比对，对于应用较广泛的AI-6000系列的抗干扰电桥，建议E型电桥使用低压屏蔽法，A、B、C、D型号电桥使用高压屏蔽法作为变压器绕组tan δ测试中的推荐方法。