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文章通过对模拟开关的实验测试,提出关于延时基本概念的深层次观点:检验电路系统中延时影响的标准,并不是该系统输入输出信号之间的延时值大小,而是该系统能否达到预期功能.提出了一种能够减小捕捉时间tAC和跌落变化率的改进结构S/H电路,其tAC = 20 ns、tAP = 20 ns,可以工作在20 MSPS抽样频率对信号进行采样保持的场合.报告了常规时序安排的带S/H的采样系统中一些重要的数学关系:允许的输入信号最高频率fmax不仅受限于Nyquist采样定理,还受限于S/H的孔径时间tAP;而tAP则主要受