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脑电图异常是脑损伤的重要标志,本文就105例小儿热性惊厥(FC)临床诸因素与脑电图(EEG)异常的关系进行分析,结果表明:间歇期EEG异常占35.2%,首发年龄小于1岁、反复发作越多、持续时间越长、局限性或不对称发作、1次热病抽搐多次、FC向无热惊厥转变。围产期异常史、惊厥家族史者EEG异常率升高。应积极控制惊厥发作和预防发作,以减少惊厥性脑损伤的发生。