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现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案，设计了符合JTAG规范的测试系统结构，实现了芯片的内部功能部件的测试。接着，通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。