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阐述了ＩＣＰ－ＡＥＳ专家系统中ＡＥＳ电离和激发模型的基本原理，研究了模拟中应用ｎｏｎ－ＬＴＥ理论的正确性以及所需的支持数据库。利用Ｂｏｌｔｚｍａｎｎ曲线，讨论了Ｂｏｌｔｚｍａｎｎ温度的测量值随能级激发能变化的现象，并与类似条件下的经验Ｂｏｌｔｚｍａｎｎ曲线进行对比，证明了专家系统中ＡＥＳ电脑和激发模型可靠性。