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本文提出了一种存储器（Memory）逻辑参数提取的电路简化新方法.该方法通过判断在输入特定激励向量时晶体管的逻辑状态是否改变来简化电路,研究表明新方法能大幅度减少电路中晶体管的数量,同时能很好地保持电路原有的功能特性和电气特性.基于此方法测得的逻辑参数有较好的精度,并大大加快了提取速度.实验结果表明该方法是有效的.