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在关键门输入端插入传输门(TG)是缓解负偏置温度不稳定性(NBTI)效应的一种有效方法,因此关键门的精确识别至关重要。针对现有关键门识别方法未考虑关键门输出对后续逻辑门影响的不足,本文提出了一种有效的关键门度量与识别方法。该方法使用路径延迟减法重新确定关键门,同时提出了应用这种有效度量的老化分析框架,最后使用传输门插入算法防护关键门,进一步缓解NBTI引起的老化。结果表明本文的老化延时改进率平均为36.76%,与原有方法相比,面积平均减少了55.08%。