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目的利用皮层厚度分析技术探讨弱视患儿脑灰质发育的异常。方法对11例弱视患儿和10名视力正常儿童行3DT1WI扫描,数据应用Freesurfer软件进行后处理,以双样本独立t检验进行病例组和对照组的全脑皮层厚度比较,将具有统计学意义（P〈0.05）的像素在标准脑模板上生成伪彩图。选取像素阈值为500个相邻像素,分析弱视患者皮层厚度改变的区域。结果弱视组在双侧中央前回、左侧距状回前部、左侧颞上回和右侧额中回、额上回皮层厚度大于对照组;而在双侧舌回、枕颞外侧回、顶上小叶的区域,对照组皮层厚度大于弱视组。结论皮层