高聚物P(EO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下离子电导率和介电常数的提高(Ⅰ)发现三种不同相的压力效应

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用混溶蒸发法制备出一系列高聚物P(EO)n-CuBr2(n=4,8,12,16,24)薄膜,并详细测量它们在0.1~350MPa静水压范围内的复阻抗谱、在0.1~2400MPa静水压范围内的交流电导率以及介电常数。结果表明:离子电导率对压力的依赖关系(σ-p曲线)是条折线,可分解为四条直线相迭加。进一步做X射线衍射物相分析,它们分别归于PEO非晶相的压力效应、PEO结晶相的压力效应和析出CuBr2新相的压力效应。由此计算出上述三种不同相所对应的激活体积、截止压力各自随高聚物P(EO)n-CuBr薄膜组分的变化。为减小离子电导率的压力效应提供了物理基础。
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