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介绍了使用X射线荧光光谱法测定氟化铝的主次量成分。采用熔融玻璃片法制样,此方法简单,迅速,成本低。选用GSB 04-2194-2008系列标准样品,采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数（Classic）和基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,使用Magix（PW2403）X射线荧光光谱仪对样品中的F、Na、Al、SiO2、Fe2O3、P2O5和SO42-共7个成分进行测定,各组分的RSD均小于3.5%,测量结果与标准值的误差在化学分析允许差范围内。