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本文描述了天线方向图的一种测量方法。当一根细金属导线在天线口径面上移动时，馈源处的反射系数会产生变化。如果天线口径场分布是保分的，那么它的反射系数的变化就与导线位置处积分口径场的平方成比例。以金属导线散射信号引起的反射系数变化的平方根作为导线位置处的函数，可得到积分口径场，由此可推导出天线远场辐射方向图。这种测量系统现已建成，其测量结果与传统的远场测量结果相比较一致性很好。这种测量方法能使我们快速