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为了满足毫米级物体速度的精确测量,设计了一套利用PIN平面光电二极管阵列构成检测光幕,用以获取微小物体通过检测区间的时间差,并利用单片机自动计算并显示速度的系统。为了减小环境光以及温度对测量结果的影响,本系统采用了AD芯片对环境光进行实时采集,以其转换结果和检测灵敏度补偿量重新设定检测阵列的对比基准,从而避免人为调整的繁琐。