Microstructure of Epitaxial La0.7Ca0.3MnO3 Thin Films Deposited by Direct Current Magnetron Sputteri

来源 :材料科学技术学报：英文版 | 被引量 : 0次 | 上传用户：xujie880112

【摘要】

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Transmission electron microscopy (TEM) and high resolution electron microscopy (HREM) have been used to study the microstructural properties of La0.7Ca0.3MnO3 f

【作者】

：

Mingguang Wang Hengqiang Ye

【机构】

：

DepartmentofSciences,ShenyangNationalLaboratoryforMaterialsScience

【出处】

：

材料科学技术学报：英文版

【发表日期】

：

2009年3期

【关键词】

：

LAALO3 直流磁控溅射微观结构薄膜衬底高分辨电子显微学透射电子显微镜磁控溅射技术 Colossal magnetoresistance Mic

【基金项目】

：

AcknowledgementThis work was financially support by the National Natural Science Foundation of China under Grant 50572013.

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Transmission electron microscopy (TEM) and high resolution electron microscopy (HREM) have been used to study the microstructural properties of La0.7Ca0.3MnO3 films on (001) LaAlO3 substrates prepared by direct current magnetron sputtering technique. The

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