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摘要S的校准曲线的离散性较大，矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素，本文在前人研究基础上，采用XRF仪器，运用粉末压片技术制备样品，采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准，方法检出限为1．361μg/g，相对标准偏差为0．97％-3．2％（RSD，n=10），校准曲线准确度为0．0058％，测量值与认定值比较吻合。S存在分析结果随测量时间（次数）的增加而增高的现象，必须在制样后立即测量。