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以钛酸丁酯为钛源，采用溶胶-凝胶法制备了Cu^2＋、Zn^2＋共掺杂TiO：薄膜，通过X射线衍射仪（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、X射线光电子能谱（XPS）、紫外可见吸收光谱（uV—Vis）对其进行表征。结果表明，Cu^2＋、Zn^2＋掺杂促进了TiO2晶相的转变，引入铜锌离子之后TiO2的禁带宽度由3．37eV减少至3．28eV。SEM表明Cu^2＋、Zn^2＋共掺杂TiO2薄膜晶粒比纯TiO2更加细小。XPS分析证实了制备的铜锌共掺杂TiO2，锌以二价氧化价态存在。以亚甲基蓝为模拟污染物，对其进