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多扫描链测试技术能有效减少测试用时和压缩测试数据，但该技术需要较多的数据输入通道，因而会导致测试成本增加．为了解决这种矛盾，一种多扫描链嫁接机制被提出．该方案错位产生基准向量，根据向量间的相容性合并扫描链的驱动端口．实验结果表明，所提方案在保持多扫描链高速测试的同时既能减少测试数据输入通道，又可获得较高的测试数据压缩率．