仪器漏电引起的CMOS电路闩锁

来源 :2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:nalbuphine
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本文以某整机在调试过程中发生的一只CMOS驱动门电路的闩锁失效为例,具体分析了测试仪器感应漏电引起CMOS电路闩锁的现象、机理和原因,具有一定的典型性.
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