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用化学沉积法制备了Ni100-xBx（x=1．95，2．13，2．40，3．90，6．70）纳米磁性薄膜系列样品。X射线衍射（XRD）分析表明，所有样品的晶粒尺寸均在6．12nm之间。利用振动样品磁强计测量了样品的磁学参数。发现该系列样品的晶格常数、晶粒尺寸．饱和磁化强度均随B含量的增大而减小，并且均在x=2．40附近出现转折点，表现出相同的变化趋势。