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电气设备中可控硅的应用日益广泛,但可控硅热容量少,稍有故障便可能引起损坏。且可控硅装置种类繁多,不易检修。本文从分析可控硅故障的原因入手,对可控硅电压,电流及开通、关断时间的离散性等易导致可控硅故障的几个方面进行了分析,并针对各种故障的不同原因,尤其是过电压、过电流与门极击穿损坏提出了行之有效的解决方法,也对可控硅串、并联中的问题及解决方法进行了分析。