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应用计算机微观图像采集分析系统建立了一套对超细材料进行形状表征和粒度测量的方法，该方法克服以往图像法测量样本小，得不到正确粒度分布的弊端，通过对SiO2标准物的粒度测定表明：均匀、单分散的测量样片的制备是图像法准确测量和分析的关键。当测量图片在6张以上，累积测量颗粒总数在200个左右时，测量结果具有代表性。该系统用于测量的粒度范围为0.5μ m-1cm的粒子时，长度测量误差小于5％，颗粒等面积直径测量偏差小于12％。