热退火对SiO2:Er薄膜发光特性的影响

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利用离子注入法制备SiO:Er样品,并在不同温度下进行退火处理。通过微区拉曼光谱、吸收光谱、X射线光电子能谱等手段对其进行结构表征,并进行了室温和变温的光致发光特性研究,得到了可见区和红外区的光致发光。其中,^4S3/2→^4I15/2的发光强度随温度的升高,先增强后减弱,呈现出反常的温度淬灭效应,此现象是由Er^3+与SiO2的缺陷之间的能量传递造成的。
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