【摘 要】
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工艺半导体制造工艺演进给闪存可靠性带来挑战。闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试,闪存可靠性测试的读干扰评价也越来越重要。本文介绍了智能卡芯片在应用
【机 构】
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北京中电华大电子设计有限责任公司,射频识别芯片检测技术北京市重点实验室
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工艺半导体制造工艺演进给闪存可靠性带来挑战。闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试,闪存可靠性测试的读干扰评价也越来越重要。本文介绍了智能卡芯片在应用场景下的闪存耐久力测试方法。该方法能提供应用级的寿命评估,同时也不会占用过多测试资源。实验结果表明作为一种应用场景可靠性水平分析方法,可用于评估和分析电信卡在应用场景下的可靠性水平。
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