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随着半导体工艺的发展，SOC芯片的规模越来越大，工艺尺寸却越来越小，而且运行频率要求越来越高，传统的可测性技术受到严峻的挑战，全速测试（AT-Speed Test）变得尤为重要，就全速扫描测性技术及其在SOC特别是片上有PLL的芯片中的实现进行介绍和讨论。
SOC中基于扫描的全速测性设计
【摘 要】
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随着半导体工艺的发展，SOC芯片的规模越来越大，工艺尺寸却越来越小，而且运行频率要求越来越高，传统的可测性技术受到严峻的挑战，全速测试（AT-Speed Test）变得尤为重要，就全速扫描测性
【机 构】
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重庆信科设计有限公司
【出 处】
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黑龙江科技信息
【发表日期】
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2008年13期
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