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用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）和透射电镜术（ＴＥＭ）观察Ｓｉ和Ｇｅ基板上ＰｂＴｅ，ＣｄＴｅ及ＰｅＧｅＴｃ单层薄膜及其与ＺｎＳ组合的多层薄膜的显微结构，给出了薄膜附着牢固度与薄膜显微结构的关系。
碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系
【摘 要】
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用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）和透射电镜术（ＴＥＭ）观察Ｓｉ和Ｇｅ基板上ＰｂＴｅ，ＣｄＴｅ及ＰｅＧｅＴｃ单层薄膜及其与ＺｎＳ组合的多层薄膜的显微结构，给出了薄膜附着牢固度与薄膜显微结构的关系。
【机 构】
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中国科学院上海技术物理研究所,上海尼赛拉公司
【出 处】
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红外与毫米波学报
【发表日期】
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1999年4期
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