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全面性癫痫伴热性惊厥附加症（GEFS^＋）是一种常见的全面性癫痫综合征，该综合征由离子通道基因突变所引起。目前，发现与GEFS^＋相关的离子通道有2个，其中1个是电压门控钠通道，它编码SCN1B、SCN1A和SCN2A基因；另1个是配体门控γ-氨基丁酸（GABA）的受体，它编码GABRG2和GABRD基因。研究GEFS^＋的分子遗传学特点有助于癫痫的基因诊断及开发新的抗癫痫药物。