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本文介绍了霍尼威尔公司电光分部研制的MCT光电导列阵自动测试系统和洛克希德公司Palo Alto研究实验室研制的焦平面列阵光电参数的自动测试站。检测的光电性能参数包括光电响应率,响应光谱,噪声,探测器的RA乘积,响应频谱,光学串音和电学串音,响应率的空间频谱,调制传递函数等。
MCT列阵光电性能参数自动测试系统
【摘 要】
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本文介绍了霍尼威尔公司电光分部研制的MCT光电导列阵自动测试系统和洛克希德公司Palo Alto研究实验室研制的焦平面列阵光电参数的自动测试站。检测的光电性能参数包括光电响
【机 构】
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昆明物理研究所昆明650223
【出 处】
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红外技术
【发表日期】
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1992年1期
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