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深亚微米技术的应用以及芯核的嵌入性特点,使传统的测试方法不再能满足芯核测试的需要,1EEEStd1500针对此问题提出了芯核的可测试性设计方案…外壳架构和测试访问机制.基于IEEEStd1500,以74373与74138软核为例,提出数字芯核可测试性设计的方法,并通过多种指令仿真验证了设计的合理性;设计的TAM控制器复用JTAG端口,节约了测试端口资源,提供了测试效率.