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确定了用X射线荧光光谱法测定砂岩中SiO2、Al2O3、CaO、MgO的含量的最佳测定条件,该方法简单、分析速度快,SiO2、Al2O3、CaO、MgO的相对标准偏差分别为0.22%、1.9%、5.3%、6.1%,结果稳定可靠。经大量试验证明,采用此法测定,操作方便,准确度高,结果令人满意。