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软x射线出现电势谱仪(APS)是一种表面物理仪器。它利用电子轰击固体表面时所产生的特征x射线来进行固体的表面分析,测定原子芯电子的束缚能和提供空带电子能态出度的有用信息。它不需要用能量分析器来检测出射光电子,而固有分辨率却高于任何芯能级谱仪。已制作的全套出现电势谱仪包括超高真空系统,分析管,锁定放大器和逐级扫描斜坡电压发生器等。文中给出了对金属(镍)、合金(铬镍铁、镍钨钙)、半导体(硅)等各种固体表面的实验结果.