【摘 要】
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In this paper, we report the experimental characterization of highly nonlinear GeSbS chalcogenide glass waveguides. We used a single-beam characterization protocol that accounts for the magnitude and sign of the real and imaginary parts of the third-order
【机 构】
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CentredeNanosciencesetdeNanotechnologies(C2N),CNRS,Univ.Paris-Sud,UniversitéParisSaclay,C2NOrsay,914
【出 处】
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PhotonicsResearch
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In this paper, we report the experimental characterization of highly nonlinear GeSbS chalcogenide glass waveguides. We used a single-beam characterization protocol that accounts for the magnitude and sign of the real and imaginary parts of the third-order nonlinear susceptibility of integrated Ge23Sb7S70 (GeSbS) chalcogenide glass waveguides in the near-infrared wavelength range at λ=1580 nm. We measured a waveguide nonlinear parameter of 7.0±0.7 W 1·m 1, which corresponds to a nonlinear refractive index of n2=(0.93±0.08)×10 18 m2/W, comparable to that of silicon, but with an 80 times lower two-photon absorption coefficient βTPA=(0.010±0.003) cm/GW, accompanied with linear propagation losses as low as 0.5 dB/cm. The outstanding linear and nonlinear properties of GeSbS, with a measured nonlinear figure of merit FOMTPA=6.0±1.4 at λ=1580 nm, ultimately make it one of the most promising integrated platforms for the realization of nonlinear functionalities.
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