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采用脉冲激光沉积法在SnO2:F(FTO)衬底上制备了非晶Pr0.7Sr0.3MnO3(PSMO)薄膜,并对具有Au/非晶PSMO/FTO三明治结构的器件进行了阻变特性测试。结果显示:在低电压范围扫描时,非晶PSMO薄膜的电流–电压(I-V)回线只在负电压区域呈现;随着电压的增加,薄膜的I-V回线出现在整个电压范围内,并在"0 V"和"–1 V"左右交叉了两次。分析表明:Poole-Frenkel(P-F)和Ohmic输运机制对非晶PSMO薄膜中的电荷输运起决定作用,包含高密度缺陷的界面态对载流子的俘获与