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精确测量了32S+90,96Zr两系统的背角准弹散射激发函数,总体误差小于1%,从中分别抽取了它们的势垒分布,对比观测到32S+96Zr的势垒结构扁平且向低能区展宽,这种势垒可导致在垒下能区该体系的熔合截面的大大增强.32S+96Zr与32S+90Zr相比存在较强的中子转移反应,且转移Q值为正.32S+96Zr势垒的扁平结构可能是中子转移道耦合所致,这会导致32S+96Zr垒下熔合截面大的增强.