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所谓小角（低角）散射（SAS）是研究倒易空间原点附近的相干散射现象。由于它仅对样品与介质的电子浓度差（置换无序）灵敏，因此它的强度分布只与散射体的粒子大小及其分布相关，与散射体的应力状态和结构因素无关。因此已成为测定大分子的长周期、超细颗粒大小及微孔大小（1～100nm）及其分布测定的有效工具。对于纳米级的薄膜和多层膜，除了电子密度差引起的低角散射背景外，还由于折射效应和厚度涨落引起附加衍射峰和峰间的强度涨落，