2. 您的位置
3. 首页
4. 期刊论文
5. 关于芯片测试良品率和测试时间的优化研究

关于芯片测试良品率和测试时间的优化研究

来源 :电子科技大学 | 被引量 : 5次 | 上传用户：myevanlee

【作 者】

：

陈巍 

【出 处】

：

电子科技大学

【发表日期】

：

2014年01期

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

从人工智能的角度试论按摩机器人的物理学设计及原理

期刊

摆脱“手机控”

期刊

电动按摩椅 热销排行榜

期刊

空间观与价值观:网络舆论空间的建构逻辑与整合之道

期刊

苏菲主义的“四分法”——以鲁米为例

期刊

工程采购适用非招标方式有据可依

期刊

基于小波变换的视频压缩分析

期刊

解决“执行难”,还需做些什么?

期刊

影视剧中的国家形象传播——以系列电影《复仇者联盟》为例

期刊

我国未注册商标保护制度的体系化解释

期刊