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晶体旋转法是测试液晶分子预倾角的常用方法，但由于需要制备较厚的样品，使用上有很多不便。本文通过叠加一适当位相差，改进了晶体旋转测试液晶分子预倾角的方法，使用于测试较厚液晶盒中预倾角的系统在测试相当于产品厚度的样品时，保持了较高的测试精度。
薄盒中液晶分子预倾角的测试方法
【摘 要】
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晶体旋转法是测试液晶分子预倾角的常用方法，但由于需要制备较厚的样品，使用上有很多不便。本文通过叠加一适当位相差，改进了晶体旋转测试液晶分子预倾角的方法，使用于测试较厚液
【机 构】
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,延边大学师范学院
【出 处】
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液晶与显示
【发表日期】
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2000年2期
【基金项目】
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吉林省科委科技发展项目!（吉科合字19980513）,中国科学院“九五“重大项目（KY95－A1－502）资助
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