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本文采用离子注入掺杂技术,研究了全氧化态聚苯胺薄膜的离子束效应。40keVK^+离子束注入后,聚苯薄膜的电导率随着剂量的增加而迅速增加。当剂量为1×10^1^7K^+/cm^2时,电导率增加了8个数量级。FTIR光谱图显示了K^+离子注入使全氧化态聚苯胺中的醌亚胺结构发生还原反应。温度差电流法测量表明,离子注入区呈现n型半导体特性。四探针法测定量了离子注入掺杂聚苯胺的电导率与温度的关系。本文还对离