抗中子辐照器件结构参数的确定

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本文分析了高压二极管、低频功率晶体管等器件在中子辐照后电参数退化规律。为提高这些器件的耐中子辐照能力,给出了这些器件结构参数的设计要求,以及这种结构特点的器件设计中需注意的有关问题。 In this paper, the degradation of electrical parameters of high-voltage diodes, low-frequency power transistors and other devices after neutron irradiation is analyzed. In order to improve the ability of these devices to resist neutron irradiation, the design requirements of the structural parameters of these devices are given, and some issues to be noticed in the device design of such structural features are given.
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