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高岭石为典型的二八面体1∶1型层状硅酸盐矿物,其结构单元层由SiO4四面体片和AlO6八面体片沿c轴堆垛而成,单元层厚度～0.717 nm,层间由氢键连结.自1930年Pauling发现高岭石的晶体结构(Al2SiO5(OH)4)以来,晶体学家和矿物学家们用X射线及中子衍射、X射线单晶分析和电子衍射等方法对高岭石的晶体结构进行了广泛研究[1～3].但是由于高岭石颗粒非常细小,难以找到作为标准单晶分析的足够大晶体.通常用作高岭石单晶分析的样品并非真正的单晶体,而可能是晶体在相同方向的堆垛.准确确定其晶体结构