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以水稻淀粉粒光学显微镜和扫描电子显微镜图像为研究对象,介绍了图像分析软件Image J在淀粉粒表面特征分析中的应用。图像分析结果以轮廓图(outline)和拟合椭圆(ellipse fitting)两种方式呈现,分析指标选择了面积、周长、长轴、短轴、圆度及最大切直径。最后还对颗粒图像的获取和图像前处理进行了探讨。