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采用阴极恒电压法在ITO导电玻璃上沉积了ZnS薄膜，并用X射线衍射仪（XRD）、原子力显微镜（AFM）以及紫外／可见／近红外光谱仪对薄膜的结构和性能进行了表征，研究了pH值对薄膜的相组成、显微形貌以及光学性质的影响。结果表明：在pH=4，沉积时间为20min，沉积电压为2V，加入柠檬酸钠作络合剂的情况下，得到沿（200）晶面生长的立方相ZnS薄膜，薄膜组成均匀而致密，随pH值增加，禁带宽度降低。