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利用复杂电子设备研制阶段故障数据 ,综合评估其可靠性水平 ,可以为复杂电子设备的定型及可靠性鉴定提供依据。为了对复杂电子设备研制阶段各试验数据进行可靠性综合评估 ,在可靠性增长的杜安模型基础上 ,引入不同试验条件下的环境折合系数 ,建立了复杂电子设备的可靠性综合评估模型 ,并提出了相应的综合评估方法 ,最后给出了所述方法与模型的一个工程应用实例。