论文部分内容阅读
本文主要介绍了开式腔谐振法测试介电常数，针对现有的平行板测量介电常数会有一部分能量顺着馈线和上下金属板之间的结构传输形成辐射损耗的特点，在馈电侧上下金属板之间增加短路板来阻挡辐射损耗。设计制作了具有短路板的介质谐振器测试系统，下金属板为可移式活塞，方便被测样品的放置。给出了工作在TE011模下的介电常数的计算方法，并进行了试验验证。