表面弯曲的古陶瓷样品X射线荧光无损定量分析

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常规X荧光分析中对样品表面有较高要求,这大大影响了利用X射线荧光法对古陶瓷无损分析的进行.本文提出了基本参数法和经验系数法中的两种较为简单的处理方法,以满足对不同大小和弯曲形状样品分析的需要.
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