论文部分内容阅读
提出一种新型的内包层横截面边界为螺旋曲线的双包层光纤结构，并给出一种分析双包层光纤吸收效率的新方法：它以射线法为基础，采用概率理论计算出光纤内部传播的光线每次被内包层边界反射后能够被纤芯直接吸收的概率，并以此概率来衡量内包层横截面形状对光纤吸收效率的影响。最后用这种方法对螺旋型双包层光纤进行分析，得出它比一般缺陷型双包层光纤优异的结论。