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利用太赫兹时域光谱成像技术检测了存在内部缺陷的高分子3D打印样本,获得了太赫兹时域光谱成像图。初步结果表明,样本中的缺陷与材料自身对太赫兹波的吸收及反射存在差异,太赫兹光谱成像可直接表征3D打印材料的外部缺陷,但对存在于样本内部的缺陷,太赫兹光谱成像结果尚需进一步优化。进一步研究发现,利用高斯加噪、叠加融合、最小二乘去噪等算法对内部缺陷的光谱图像进行优化,能够得到清晰的太赫兹时域光谱图像。因此,利用太赫兹时域光谱成像技术及优化算法,能够实现对有机高分子3D打印材料内部缺陷的表征。