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采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定了Ta1oW合金中的钨量,样品用硝酸和氢氟酸溶解,在波长207.911 nm下测定,采用高纯钽进行基体匹配绘制校准曲线以消除基体干扰,加标回收率介于96％～101％,RSD小于0.38％.该方法简便快速,结果准确,可用于生产检验和标准样品检测.