部分耗尽CMOS/SOI工艺

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对部分耗尽CMOS/SOI工艺进行了研究,成功地开发出套部分耗尽CMOS/SOI抗辐照工艺。其关键工艺技术包括:PBL(Poly-Buffered LOCOS)隔离、沟道工程和双层布线等技术。经过工艺设计,获得性能良好的抗辐照(CMOS/SOI)器件和电路(包括101级环振、5000门门海阵列和64K CMOS/SOI静态存储器)。其中,NMOS:Vt=1.2V,BVds=7.5-9V, μff=425cm^2(V·s),PMOS:Vt=-0.9V,BVds=14-16V, μeff=24
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