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研究了GaN／GaAlN量子阱内电子的激发态极化（EESP）的压力效应，计算中考虑了纤锌矿结构材料的晶格常数、形变势的各向异性。以及内建电场（IEF）的作用．结果表明：电子势垒高度随压力下降；电子基态有效质量随压力下降而电子的第一激发态有效质量随压力上升；EESP强度随压力缓慢上升；电子极化的偶极矩随Al浓度非线性下降．一般情况下，EESP对IEF的影响可忽略，但当掺杂浓度n足够大（n〉10^19／cm^3）时，EESP可屏蔽IEF．