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为了评价聚酰亚胺/纳米TiO2复合薄膜的耐电晕寿命。对自制的聚酰亚胺/纳米TiO2薄膜进行加速寿命试验,并对得到的实验结果用两参数Weibull分布解析法计算。得出了该薄膜在(15±3)℃,770V、20kHz的脉冲电压条件下的累积失效概率方程和可靠度方程等可靠性参数。Weibull假设检验结果表明,所得试验结果服从Weibull分布。