论文部分内容阅读
目的 研究学生在紧张学习记忆状态下记忆分值和脑涨落图 (ET) S谱线的变化。方法 采用临床记忆量表测定了 2 0名高中三年级学生记忆分值 ;利用北京中国华阳国际公司生产的脑电超慢涨落图 (ET)仪检测了在学习记忆状态下 S谱系变化。结果 1.学生在紧张的学习记忆状态下记忆分值增高 ,S2、S3谱较安静状态活跃。2 .S2系有明显的左脑优势。结论 ET技术可用来检测脑功能并能评价脑的记忆效率